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摘要:
通过临界电流密度的测定,透射电子显微镜和化学分析建立了临界电流密度 Jc 与Nb_3Sn 中氧含量以及存在的很细的弥散析出物间的关系。当氧含量从小于50PPm(重量)增加至1000PPm 时,在46仟高斯下的临界电流密度 Jc 从1×10~5安/厘米~2增加到6×10~5。对所有氧含量大于160PPm 的试样,观察到一种很细的析出物(质点尺寸～50埃)。结论是析出物在 Nb_3Sn 中起磁钉中心的作用。发现氮含量与临界电流密度间没有关系。
引用本文
P·B·哈特,周廉. Nb_3Sn的显微组织、杂质含量及临界电流密度[J].稀有金属材料与工程,1972,(5).[.[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1972,(5).]
DOI：[doi]
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