+高级检索
用俄歇电子光谱仪研究掺杂钨丝的开裂
DOI:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:


Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    在100—650K内的不同温度下,对掺杂K—Al—Si(钾—铝—硅)的商业钨棒和钨丝(φ0.9、0.3,0.18mm)进行了开裂试验。新鲜的开裂面立即用AES(俄歇电子光谱仪)研究,随后用扫描电镜对其作形貌观察。主要结果如下:a)在常规试验中,钾会沿着开裂面展散开,若将样品保持在100K以下,可以避免这种展散;b)经一次和二次再结晶的钨丝,其开裂是沿着钾第二相较密集的区域发生的;c)在烧结棒和粗丝中,除有气泡外,也还存在准二维的钾第二相;d)开裂源于被氧化的晶界或被氧化的微裂纹;e)丝纵裂时,有时出现钾和

    Abstract:

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

M·Menyhard,张孝全.用俄歇电子光谱仪研究掺杂钨丝的开裂[J].稀有金属材料与工程,1982,(2).[.[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1982,(2).]
DOI:[doi]

复制
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期: