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单晶取向测定用图表
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    本文利用理论公式:θ背=90°-1/2tan~(-1)L背/D,θ透=1/2tan~(-1)L透/D和θ背+θ透=90°,设计出一种图表,并提出了设计这种图表的基本理论。使用这种图表既可以直接测定背射劳埃斑点的半衍射角—θ背角,也可以直接测定透射劳埃斑点的θ透角。为了充分发挥仪器的作用,在应用X射线衍射仪进行测试(物相分析等)的同时,仍用线焦点拍照劳埃花样进行了试验。试验结果表明,用线焦点拍照劳埃花样的精度并不比用点焦点的低,却缩短了衍射仪的调机和开机时间。

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    引证文献
引用本文

傅良霹.单晶取向测定用图表[J].稀有金属材料与工程,1987,(1).[.[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1987,(1).]
DOI:[doi]

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