TG146.18 TG115.33
利用直接光谱法测定锑中As、Co、Bi、Pb、Cr、Sn、Mg、Fe、Al、Ni、Cd、Cu、Zn、Ag等微量杂质,选择石墨粉作为缓冲剂,改善了谱线的重复性,对样品处理进行了详细的分析研究,以最佳的光谱测定条件,使元素测定下限达到3×10-4%─3×10-3%,相对误差在22%以内,为金属锑纯度的全面分析建立了可靠的分析方法。
胡文珍.金属锑中微量杂质的光谱测定[J].稀有金属材料与工程,1994,(6):52~55.[Hu Wenzhen. Spectrometric Determination for Trace Impurities in Stibium[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1994,(6):52~55.]DOI:[doi]