TG139.6 O484
用Ｘ射线衍射线形的傅里叶分析及电阻法，研究了溅射Ｔｉ－４９．３７ａｔ％Ｎｉ合金薄膜的位错组态及相转变温度随退火条件的变化规律，以及位错密度与相位温度的关系。研究结构表明：随退火温度升高和保温时间增加，平均位错密度下降，马氏体相变温度升高，位错密度的变化受析出相粒子的大小和分布制约。随位错密度增加，马氏体相变温度下降，Ｒ相变温度基本保持不变。
单凤兰 霍艳玲. TiNi形状记忆合金薄膜的位错与相变[J].稀有金属材料与工程,1998,(4):199~201.[.[J]. Rare Metal Materials and Engineering,1998,(4):199~201.]DOI：[doi]