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基片斜切角度对YBCO薄膜微观结构及超导电性能的影响
中图分类号:

O484.1


Effects of Substrate Miscut Angle on Microstructure and Superconductivity of YBCO Films
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    研究基片斜切角度对YBCO薄膜微观结构及超导电性能的影响。采用脉冲激光沉积(PLD)法在0°~6°斜切(001)SrTiO3基片上制备了具有c取向的YBCO薄膜。用XRD和TEM对薄膜微观结构进行了分析,用标准四引线法测定薄膜电阻.温度关系,从而确定薄膜的超导电性能。结果表明,随斜切角度的增大,薄膜晶体质量下降,晶格弯曲畸变程度增大,超导临界转变温度降低,转变宽度增大。

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引用本文

王天生 田永君 彭炜 漆汉宏 李林.基片斜切角度对YBCO薄膜微观结构及超导电性能的影响[J].稀有金属材料与工程,2007,36(5):862~864.[Wang Tiansheng, Tian Yongjun, Peng Wei, Qi Hanhong, Li Lin. Effects of Substrate Miscut Angle on Microstructure and Superconductivity of YBCO Films[J]. Rare Metal Materials and Engineering,2007,36(5):862~864.]
DOI:[doi]

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  • 最后修改日期:2006-03-04