+高级检索
基片斜切角度对YBCO薄膜微观结构及超导电性能的影响
DOI:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

O484.1

基金项目:


Effects of Substrate Miscut Angle on Microstructure and Superconductivity of YBCO Films
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    研究基片斜切角度对YBCO薄膜微观结构及超导电性能的影响。采用脉冲激光沉积(PLD)法在0°~6°斜切(001)SrTiO3基片上制备了具有c取向的YBCO薄膜。用XRD和TEM对薄膜微观结构进行了分析,用标准四引线法测定薄膜电阻.温度关系,从而确定薄膜的超导电性能。结果表明,随斜切角度的增大,薄膜晶体质量下降,晶格弯曲畸变程度增大,超导临界转变温度降低,转变宽度增大。

    Abstract:

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

王天生 田永君 彭炜 漆汉宏 李林.基片斜切角度对YBCO薄膜微观结构及超导电性能的影响[J].稀有金属材料与工程,2007,36(5):862~864.[Wang Tiansheng, Tian Yongjun, Peng Wei, Qi Hanhong, Li Lin. Effects of Substrate Miscut Angle on Microstructure and Superconductivity of YBCO Films[J]. Rare Metal Materials and Engineering,2007,36(5):862~864.]
DOI:[doi]

复制
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:2006-03-04
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期: