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SPS法制备的赝二元合金(Ga2Te3)x-(Bi0.5Sb1.5Te3)1-x(x=0~0.2)电学性能
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TN304

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浙江省自然科学基金(Y404321);宁波市自然科学基金(2006A610058)


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    采用放电等离子烧结(SPS)方法制备了赝二元合金(Ga2Te3)(Bi0.5Sb1.5Te3)1-x(x=0—0.2),并研究其电学性能。结果表明,在318K时(Ga2Te3)x-(Bi0.5Sb1.5Te3)1-x(x=0.1)合金的电导率为3.7×10^4Ω^-1·m^-1,是三元合金Bi0.5Sb1.5Te3的2倍,而Seebeck系数没有明显下降。从所测得的a和σ值可知,赝二元(Ga2Te3)x-(Bi0.5Sb1.5Te3)1-x(x=0.1)合金的功率因子最大,为2.1×10^-3(W·K^-2·m^-1),是三元Bi0.5Sb1.5Te3合金的1.5倍。

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引用本文

薛海峰 崔教林 修伟杰. SPS法制备的赝二元合金(Ga2Te3)x-(Bi0.5Sb1.5Te3)1-x(x=0~0.2)电学性能[J].稀有金属材料与工程,2007,36(9):1653~1656.[Xue Haifeng, Cui Jiaolin, Xiu Weijie.[J]. Rare Metal Materials and Engineering,2007,36(9):1653~1656.]
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  • 最后修改日期:2006-09-12
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